English

NIR Plan Apo 50X/0.67 – Metalurški objektiv s korekcijom za beskonačnost za snimanje kroz silicijum i praćenje procesa vlaknastim laserom

NIR Plan Apo 50X/0.67 – Metalurški objektiv s korekcijom za beskonačnost za snimanje kroz silicijum i praćenje procesa vlaknastim laserom. Istaknuta slika.
  • NIR Plan Apo 50X/0.67 – Metalurški objektiv s korekcijom za beskonačnost za snimanje kroz silicijum i praćenje procesa vlaknastim laserom
  • NIR Plan Apo 50X/0.67 – Metalurški objektiv s korekcijom za beskonačnost za snimanje kroz silicijum i praćenje procesa vlaknastim laserom

NIR Plan Apo 50X/0.67 – Metalurški objektiv s korekcijom za beskonačnost za snimanje kroz silicijum i praćenje procesa vlaknastim laserom

NIR Plan Apo 50X/0.67 je vrhunski plan-apohromatski mikroskopski objektiv s beskonačnom korekcijom, posebno optimiziran za primjene u bliskom infracrvenom (NIR) području. S numeričkom aperturom (NA) od 0,67 i radnom udaljenošću (WD) od 10 mm, pruža izuzetnu rezoluciju (0,5 µm) i odličan NIR prijenos u vidljivom rasponu od 380–700 nm, kao i kritičnoj valnoj dužini od 1064 nm - što ga čini idealnim za inspekciju stražnje strane silicijumskih pločica, metrologiju kroz silicijum via (TSV) i praćenje obrade vlaknastim laserom u stvarnom vremenu.

Ključne specifikacije:

  • Uvećanje: 50X
  • Numerička apertura (NA): 0,67
  • Radna udaljenost (WD): 10 mm
  • Žižna daljina: 4 mm
  • Rezolucija: 0,5 µm
  • Dubinska oštrina (±DF): 0,75 µm
  • Maksimalno vidno polje: 0,5 mm
  • Težina: 430 g
  • Optički dizajn: Korekcija za beskonačnost, plan apohromat (APO)
  • Radna talasna dužina: 380–700 nm i 1064 nm
  • Imerzioni medij: Zrak

Detalji proizvoda

Oznake proizvoda

Tipične primjene:
Inspekcija poluprovodnika– Inspekcija zadnje strane pločice, mjerenje TSV-a (kroz silicijumski prolaz), pregled defekata nakon laserskog rezanja
Analiza kvara– Nerazorno snimanje kroz silikonske podloge za pregled zakopanih struktura
Laserska obrada– Posmatranje ablacije, bušenja ili zavarivanja vlaknastim laserom od 1064 nm u realnom vremenu u nauci o materijalima i proizvodnji
Metalurgija i nauka o materijalima– Inspekcija visoke rezolucije zona pod utjecajem laserske topline, prerađenih slojeva i mikrostruktura
NIR fluorescentna mikroskopija– Za biološke ili materijalne uzorke koji zahtijevaju pobuđivanje u bliskom infracrvenom zračenju
Objektiv mikroskopa


  • Prethodno:
  • Sljedeće:
    • Napišite svoju poruku ovdje i pošaljite nam je

    KATEGORIJE PROIZVODA

    Kompanija Wavelength se već 20 godina fokusira na pružanje visokopreciznih optičkih proizvoda.

    Pritisnite enter za pretragu ili ESC za zatvaranje